Metodi spettrofotometrici per misure assolute di trasmittanza e riflettanza di componenti
Year: 1988
Authors: Castellini C.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Abstract: Non disponibile
Journal/Review:
Volume: 4 Pages from: 177 to: 184
KeyWords: trasmittanza; riflettanza; spettrofotometri; misurazione;