Femtosecond autocorrelation measurements in the mir based on two-photon absorption in semiconductor devices

Year: 2003

Authors: Foggi P., Goller D.D., Bellini M., Di Trapani P.

Autors Affiliation: LENS e INFM UdF, via Nello Carrara 1, 50019 Sesto Fiorentino (FI), Italy;
Dip. di Choimica, Università di Perugia, Italy;
Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
INFM e Dip. di Scienze Chimiche Fisiche e Matematiche, Università dell’Insubria, Como Italy

Journal/Review:

KeyWords: Interferometry