Misura della microrugosità de superfici lavorate otticamente
Year: 2002
Authors: Quercioli F., Tiribilli B., Vassalli M., Barilli M.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Galieo Avionica, Campi Bisenzio, Italy
Conference title: Elettroottica 2002 : 7° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici”
Place: Montecatini Terme
KeyWords: Atomic force microscopy