Metodi di “speckle pattern” e di interferometria “phase shifting” per la caratterizzazione di processi di finitura ottica
Year: 1990
Authors: Greco V., Molesini G., Quercioli F., Righini A.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Dipartimento di Astronomia e Scienza dello Spazio
Conference title: 1° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici” (Elettroottica ’90)
Place: Milano – Segrate
KeyWords: Lavorazioni ottiche; speckles;