Misure di riflessione spettrale su campioni di inchiostro

Year: 2003

Authors: Bertoncini L., Di Marco S., Francini F., Mercatelli L.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Journal/Review:

KeyWords: Fotometria