Micro-profilometria a scansione per il rilievo della superficie di dipinti antichi
Anno: 2006
Autori: Fontana R., Gambino M.C., Pampaloni E., Pezzati L., Seccaroni C.
Affiliazione autori: INOA – Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
ENEA, MAT-QUAL, C.R. Casaccia, s.p. Anguillarese 301, 00060 Santa Maria di Galeria, Roma, Italy
Giornale/Rivista:
Parole chiavi: Microprofilometria a scansione; conoscopia;