Misura della microrugosità de superfici lavorate otticamente
Anno: 2002
Autori: Quercioli F., Tiribilli B., Vassalli M., Barilli M.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Galieo Avionica, Campi Bisenzio, Italy
Titolo Convegno: Elettroottica 2002 : 7° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici”
Luogo: Montecatini Terme
Parole chiavi: Atomic force microscopy