Misure di parallelismo con metodi meccanici e interferometrici
Anno: 2007
Autori: Vannoni M., Bertozzi R.
Affiliazione autori: CNR – Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Centro SIT n. 130, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
CERMRT Centro SIT n. 52,
Titolo Convegno: Metrologia & Qualità
Luogo: Torino
Parole chiavi: metrology