Misure interferometriche di parallelismo

Anno: 2005

Autori: Vannoni M., Molesini G.

Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Titolo Convegno: IV Congresso “Metrologia e Qualità”
Luogo: Torino

Parole chiavi: Metrologia ottica; collaudi ottici; parallelismo