Misure interferometriche di parallelismo
Anno: 2005
Autori: Vannoni M., Molesini G.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Titolo Convegno: IV Congresso “Metrologia e Qualità”
Luogo: Torino
Parole chiavi: Metrologia ottica; collaudi ottici; parallelismo