Metodi di “speckle pattern” e di interferometria “phase shifting” per la caratterizzazione di processi di finitura ottica
Anno: 1990
Autori: Greco V., Molesini G., Quercioli F., Righini A.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Dipartimento di Astronomia e Scienza dello Spazio
Titolo Convegno: 1° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici” (Elettroottica ’90)
Luogo: Milano – Segrate
Parole chiavi: Lavorazioni ottiche; speckles;