IndietroAutore: Greco Vincenzo Categoria: Conference proceedings 1) The ADAHELI Solar Mission Di: Berrilli F., Velli M., Roselli L., Bigazzi A., Moretti P.F., Romoli M., Orsini S., Cavallini F., Greco V., Carbone V., Consolini G., Di Mauro M.P., Ermolli I., Pietropaolo E., Romano P., Ventura P., White S.M., Zuccarello F., Cauzzi G., Valdettaro L. Anno: 2008 (Cit.: 0)
2) Calcolo ottico di un endoscopio catadiottrico a doppia banda spettrale per il Joint European Torus Di: Bertoncini L., Cacciari I., Greco V., Maddaluno G. Anno: 2004 (Cit.: 0)
3) Refractive endoscope for wide-angle thermography on JET Di: Maddaluno G., Greco V. Anno: 2003 (Cit.: 0)
4) Absolute measurement of planarity: pixel versus Zernike data analysis Di: Greco V., Molesini G. Anno: 2001 (Cit.: 0 DOI: 10.1117/12.445632)
5) Absolute calibration of optical flats: long term reproducibility of interferometric measurements Di: Greco V., Molesini G. Anno: 2001 (Cit.: 0)
6) Test sphere segments for quality assessment of contact lenses in ophthalmology Di: Greco V., Molesini G. Anno: 2000 (Cit.: 0)
7) Measuring the absolute planarity of test plates with a modified Fritz’s method Di: Greco V., Molesini G. Anno: 1999 (Cit.: 0)
8) Interferometric calibration of optical parallels Di: Greco V., Marchesini F., Molesini G. Anno: 1999 (Cit.: 0)
9) Accurate measurement of ophthalmic power of test lenses for the calibration of focimeters Di: Greco V., Molesini G. Anno: 1999 (Cit.: 0)
10) Misura interferometrica di planarità assoluta Di: Greco V., Tronconi R., Del Vecchio C., Trivi M., Molesini G. Anno: 1998 (Cit.: 0)
11) Edge diffraction in sunlight Di: Greco V., Molesini G., Tronconi R. Anno: 1997 (Cit.: 0 DOI: 10.1117/12.294411)
12) Measuring the deformations of a scattering surface with a general purpose interferometer Di: Trivi M., Greco V., Hoffer L., Molesini G. Anno: 1996 (Cit.: 0)
13) Interferometric measurement of thin soap films Di: Greco V., Molesini G. Anno: 1996 (Cit.: 0)
14) Interferometria su superfici rugose con un interferometro programmabile Di: Greco V., Hoffer L., Molesini G., Trivi M. Anno: 1996 (Cit.: 0)
15) Monitoring the optical thickness of transparency films by homodyne interferometry Di: Greco V., Trivi M., Molesini G. Anno: 1996 (Cit.: 0)
16) Real-time measurement of optical thickness by three-channel homodyne interferometry Di: Greco V., Iemmi C., Ledesma S., Molesini G., Quercioli F. Anno: 1994 (Cit.: 0)
17) Monitoring the optical polishing process by computerized microscopy techniques Di: Greco V., Iemmi C., Ledesma S., Molesini G., Quercioli F. Anno: 1994 (Cit.: 0)
18) Interferometria omodina multifase Di: Greco V., Iemmi C., Ledesma S., Molesini G., Quercioli F. Anno: 1994 (Cit.: 0)
19) Misura di film ultrasottili in aria con la tecnica dell’interferometria a scorrimento di fase Di: Greco V., Iemmi C., Ledesma S., Molesini G., Quercioli F. Anno: 1994 (Cit.: 0)
20) Controllo del processo di lucidatura ottica con tecniche d’immagine Di: Greco V., Iemmi C., Ledesma S., Molesini G., Quercioli F. Anno: 1994 (Cit.: 0)
21) Four-channel interferometric displacement sensor Di: Greco V., Iemmi C., Ledesma S., Mannoni A., Molesini G., Quercioli F. Anno: 1993 (Cit.: 1)
22) Speckle based interferometric technique for surface finish measurements Di: Greco V., Molesini G., Quercioli F. Anno: 1993 (Cit.: 0)
23) Principi e tecniche strumentali nelle misure di prossimità con dispositivi elettroottici Di: Molesini G., Quercioli F., Greco V. Anno: 1992 (Cit.: 0)
24) Surface finish testing by speckle interferometry Di: Greco V., Molesini G., Quercioli F., Righini A. Anno: 1992 (Cit.: 0)
25) Metodi di “speckle pattern” e di interferometria “phase shifting” per la caratterizzazione di processi di finitura ottica Di: Greco V., Molesini G., Quercioli F., Righini A. Anno: 1990 (Cit.: 0)