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Autore: Ascoli Cesare Categoria: Abstract 

1) Strategies to measure the Young modulus of cells by means of Scanning Ion Conductance Microscopy
Di: Tognoni E., Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C. Anno: 2011 (Cit.: 0)

2) Use of scanning ion conductance microscopy to map
elastic properties of cell membranes
Di: Tognoni E., Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C. Anno: 2011 (Cit.: 0)

3) Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica
Di: Tognoni E., Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C. Anno: 2010 (Cit.: 0)

4) Scanning probe microscopy as a tool for nanoimprint lithography
Di: Pingue P., Dinelli F., Baschieri P., Ascoli C., Menozzi C., Facci P., Beltram F. Anno: 2007 (Cit.: 0)

5) “Electrooptic Imaging of Ferroelectric Domains with a Near-Field Fiber Probe”,
Di: O. Tikhomirov, M. Labardi, C. Ascoli, M. Allegrini Anno: 2006 (Cit.: 0)

6) “Resolution Improvement in Near-Field Optical Microscopy by Application of Surface-Localized Fields: Case of Electro-Optic Modulation”,
Di: O. Tikhomirov, M. Labardi, C. Ascoli, M. Allegrini, Anno: 2006 (Cit.: 0)

7) “Scanning Electro-Optic Microscopy of Ferroelectrics”
Di: O. Tikhomirov, M. Labardi, C. Ascoli, M. Allegrini, Anno: 2005 (Cit.: 0)