Attività primaria: •Microscopie a sonda (SPM)e loro applicazioni non convenzionali.
•Sviluppo di metodi e strumentazione per microscopie a sonda
•Uso delle microscopie SICM (Scanning Ion Current Microscopy) e AFM (Atomic Force Microscopy) per la guida dei coni di crescita neurali.


Principali competenze acquisite: Misure di alta precisione, microscopie a risoluzione atomica, trattamento del rumore, analisi di segnale, risonanza magnetica elettronica e nucleare e sua rivelazione tramite momento angolare, sviluppo di strumentazione.

Pubblicazioni, risultati di ricerca attualmente presenti nel database INO: 21
  –   Articoli su Rivista JCR/ISI: 21
  –   Libri o Capitoli: 4
  –   Articoli su Riviste non JCR/ISI: 1
  –   Atti di conferenze: 5
  –   Abstract: 7

Gli indici bibliometrici sono calcolati UTILIZZANDO SOLO IL DATABASE INO e il numero di citazioni da “WEB OF SCIENCE” (di Thomson Reuters) è aggiornato al 2024-04-21
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  –   I dieci articoli più citati  –   I dieci articoli con Impact Factor più alto