Dalla struttura delle regione fra due domini invertiti in cristalli ferroelettrici dipendono alcune importanti caratteristiche, come la linearità e l’efficienza, dei dispositivi realizzati. Per questo negli ultimi anni le frontiere che delimitano i domini sono state studiate in diversi modi. Lo studio della birifrangenza permette di ottenere una buona misura degli stress locali attorno alle frontiere del LiNbO₃. Per ottenere l’ intera mappa delle direzioni degli stress indotti il campione polato è inserito in un polariscopio piano mostrato in figura: il campione è posto fra polarizzatore e analizzatore e la sua immagine a fuoco è acquisita mediante una CCD, avendo come sorgente un laser He-Ne a 632.8 nm. Le direzioni principali degli stress in ogni punto del campione sono ottenute mediante il phase-shifting, tecnica che permette di ottenere le direzioni degli stress dalle immagini di intensità acquisite. In questo modo otteniamo una misura dello spessore della frontiera e determiniamo le direzione degli assi principali degli stress che finora erano solo supposte essere ortogonali o parallele alle frontiere.

L’Olografia digitale permette la caratterizzazione quantitativa di microstrutture. In particolare noi usiamo l’ Olografia Digitale come strumento finalizzato alla caratterizzazione di fasci laser, nel visibile e nell'IR, alla misura di profili e deformazioni in regime statico e dinamico di MEMS (Micro-Electro-Mechanical-Systems), alla misura simultanea di indice di rifrazione e di spessore di multistrati di interesse microelettronico e al monitoraggio del processo di inversione dei domini in cristalli ferroelettrici. Per risalire alla struttura topografica dell’ oggetto in esame è necessaria un’ operazione di unwrapping, infatti l’informazione sulla quota è direttamente legata alla fase ma la mappa di fase, che viene fuori dal processo di ricostruzione olografico, ha valori codificati in un range di 2p. Il processo di unwrapping è complicato da due ulteriori problemi: la fase ricostruita è corrotta da rumore ed inoltre è necessario distinguere fra salti di fase effettivi e salti di fase causati da discontinuità realmente presenti nell’oggetto in esame. In passato sono stati proposti vari algoritmi per evitare errori nel processo di unwrapping, ma nessuno applicato all’ olografia digitale presenta contemporaneamente tutti i vantaggi del metodo da noi utilizzato. Per ottenere la corretta informazione di fase abbiamo applicato un algoritmo basato sulla prima identità di Green, che per le microstrutture di nostro interesse si è rivelato efficace, robusto e veloce. Il metodo è globale e robusto, in quanto la propagazione dell’errore è automaticamente limitata in un piccolo intorno del punto corrotto, ma è anche efficiente computazionalmente in quanto implementabile mediante algoritmi di FFT.