- “Sistema a Laser per Guidare la
Stesura di Strati di Materiale in Foglio su Superfici di
Deposizione Tridimensionali”. Inventori: F.Mariotti,
P.Ferraro, S.Inserra e F.Vola., Assegnatari: ALENIA Aeronauitca -
Finmeccanica e RTM , Depositato a Torino il 3 Novembre 1992,
Domanda N° TO 92A000892.
- “Procedimento per l'inglobamento di
fibre ottiche, ovvero di sensori a fibra, ottica all'interno di
manufatti in materiale composito”. Inventori: V. De Vita,
P.Ferraro, S.Inserra, Assegnatario: ALENIA Aeronauitca -
Finmeccanica , Depositato a Roma il 22 Aprile 1993, Domanda N°
RM 93A000253.
- “Integrated Optical Instrumentation
for the Diagnostics of Parts by Embedded or Surface Attached
Optical Sensors. Patent Number: US n° 5,493,390 (1996)
estensione del già depositato in Italia Brevetto N.01262407,
il 6 settembre (1996); Inventori: J. R.Dunphy, P. Ferraro, S.
Inserra Imparato, G.Meltz , M. Signorazzi, A.Vannucci, M. Varasi,
C. Voto; Assegnatari: ALENIA Aeronautica - Finmeccanica e United
Tecnologies Corporation;
- “Embedded Optical Sensor Capable of
Strain and Temperature Measurement Using a Single Diffraction
Grating”. Inventors: J.R.Dunphy, G.Meltz, M.Varasi,
A.Vannucci, M.Signorazzi, P.Ferraro, S.Inserra Imparato, C.Voto.
Assegnatari: Finmeccanica S.p.A. Ramo Aziendale ALENIA e United
Technologies Corporation. Patent Number: US n° 5,399,854,
(1995);
- “Sistema interferometrico per la
misura dell'indice di rifrazione di mezzi liquidi
trasparenti”, Inventori: P.Ferraro, S.De Nicola, A.Finizio,
G.Pierattini., Assegnatario: Consiglio Nazionale delle Ricerche,
Depositato a Roma il 19 Marzo 1996, Domanda N° RM
96A000178.
- “Sistema interferometrico per la
misura simultanea dell’indice di rifrazione e dello spessore
di materiali trasparenti e relativo procedimento”; Inventori:
G. Coppola, P. Ferraro, M. Iodice e S. De Nicola; Assegnatario:
Consiglio Nazionale delle Ricerche. Depositato a Roma il 24 Luglio
2002, Domanda N° RM 2002A000397.
- Brevetto CNR di invenzione industriale
Metodo per la modifica della risoluzione spaziale nella risoluzione
delle immagini in olografia digitale, Inventori: G. Coppola, S. De
Nicola, P. Ferraro, A. Finizio, G. Pierattini; Assegnatario:
Consiglio Nazionale delle Ricerche. Depositato a Roma il 13 Agosto
2003, Domanda N0 RM 2003 A000398, (in corso di estensione
all’estero: USA, Giappone, Europa).
- Brevetto CNR di invenzione industriale:
“Metodo per la mappatura bidimensionale delle
proprietà elettro-ottiche di oggetti, cella da utilizzare in
tale metodo per l’applicazione del campo elettrico ad
oggetti, e relativo apparato”. Inventori: M. de Angelis, P.
Ferraro, A. Finizio, S. Grilli, P. De Natale, S. De Nicola, G.
Pierattini. Assegnatario: Consiglio Nazionale delle Ricerche.
Depositato a Roma il 17 Marzo 2004. Domanda N0 RM 2004 A000133.
Ammesso al finanziamento da parte della Provincia di Roma
nell’ambito del “Bando per il sostegno ai processi di
brevettazione europea ed internazionale da parte delle Piccole e
Medie Imprese, delle Università e dei Centri di Ricerca
della Provincia di Roma”. Filed PCT extension
(17.03.2005)
- Brevetto CNR di invenzione industriale:
“Metodo olografico a ricostruzione numerica per ottenere
un’immagine di un oggetto tridimensionale nella quale siano a
fuoco anche i punti situati al di fuori della profondità di
campo e apparato olografico utilizzante tale metodo ”.
Inventori: P. Ferraro, S. Grilli, G. Coppola, S. De Nicola, A.
Finizio, G. Pierattini, B. Javidi. Assegnatario: Consiglio
Nazionale delle Ricerche. Riferimento CNR 1668. Domanda RM 2005
A000120 del 16.03. 2005
- Brevetto CNR, Consiglio Nazionale delle
Ricerche (50%); D’Appolonia S.p.A. (50%)"Metodo
interferometrico di interrogazione di sensori, in particolare di
sensori in fibra ottica a reticolo di Bragg, e relativo sistema"
RM2005-A000189 del 20/4/2005. Inventori: Giuseppe COPPOLA, Paolo DE
NATALE, Sergio DE NICOLA, Maurizio DE ROSA, Pietro FERRARO, Mario
IODICE, Giovanni PIERATTINI, Ivo RENDINA
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