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Conferenze - Congressi
In questa sezione è mostrata la lista degli Articoli, Abstract, Poster e Relazioni presentati in Congressi e/o Conferenze negli ultimi 15 anni.
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Articoli in atti di convegno - Anno 2004 (in totale sono: 11)

1) 2D and 3D optical diagnostic techniques applied to Pisanello’s Portrait of Lionello d’Este di oltre 10 autori fra cui inclusi: Poggi Pasquale, Della Patria Andrea, Bellucci Roberto, Piccolo Roberta, Carcagnì Pierluigi, Pampaloni Enrico, Greco Marinella, Gambino Maria Chiara, Materazzi Marzia, Mastroianni Maria, Pezzati Luca, Fontana Raffaella, Frosinini Cecilia presentato a: OSAV 2004: Proceedings of The International Topical Meeting on Optical Sensing and Artificial Vision

2) Calcolo ottico di un endoscopio catadiottrico a doppia banda spettrale per il Joint European Torus di Bertoncini L., Cacciari I., Greco V., Maddaluno G. presentato a: 8° Convegno Nazionale "Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici" (Elettroottica 2004)

3) Diode pumped ceramic slab laser di Lapucci A., Ciofini M. presentato a: EPS-QEOD Europhoton Conference Solid-state and fiber coherent light sources

4) Focometro portatile passivo a effetto moiré di Buah-Bassuah P.K., Tiribilli B., Vassalli M., Molesini G. presentato a: 8° Convegno Nazionale "Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici" (Elettroottica 2004)

5) Microscopie ottiche a scansione di Quercioli F., Girelli A., Tiribilli B., Vassalli M., Molesini G., Vannoni M. presentato a: 8° Convegno Nazionale "Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici" (Elettroottica 2004)

6) Microscopio olografico a ricostruzione numerica per la diagnostica di strutture MEMS/MOEMS di Ferraro P., Grilli S., Alfieri D., De Nicola S., Finizio A., Pierattini G., Coppola G., Iodice M. presentato a: Elettroottica 2004: 8. Convegno nazionale "Strumentazione e metodi di misura elettrottici"

7) Misura del grado di collimazione dei fasci ottici per interferometria di Vannoni M., Molesini G., Righini A. presentato a: 8° Convegno Nazionale "Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici" (Elettroottica 2004)

8) Misura dello spessore e dell'indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante interferometro a spostamento laterale a scansione di lunghezza d'onda di Maddaloni P., Ferraro P., De Natale P., Coppola G., Gioffre M., Iodice M., De Nicola S. presentato a: Elettroottica 2004: 8. Convegno Nazionale "Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici"

9) Misure di microrugosità per il monitoraggio del degrado di opere bronzee di Fontana R., Gambino MC., Ghirelli A., Greco M., Pampaloni E., Quercioli F., Tiribilli B., Vassalli M. presentato a: Elettroottica 2004: 8. Convegno Nazionale "Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici"

10) Specchi diffrattivi per il campionamento di laser di potenza di Lapucci A., Ciofini M., Lolli S. presentato a: Odimi'04, 4° Workshop su Ottiche Diffrattive, Microottica e Microsistemi

11) Testing the lenses of Campani, lens maker for Cassini di Molesini G. presentato a: Titan, from discovery to encounter


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